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    手持式XRF光譜儀為您提供快速分析和低檢測限

    更新時間:2021-07-15 點擊次數:1636
           X射線熒光分析技術是一種非侵入式、能夠對不同材料中的化學組成實現快速分析的無損檢測技術。這些特性使得該分析技術在許多方面都更加實用且更具優勢。其主要應用范圍包括:金屬合金材料的可靠性鑒別(PMI)、危險品檢測、材料驗證以及司法科學等方面。

           XRF分析儀的工作原理可以概述如下:(1) 發射X射線,激發樣品產生熒光; (2) 探測器接收X射線熒光; (3) 利用復雜的運算對數據進行處理; (4) 牌號識別。XRF是一種表面檢測技術。對于諸如鋁制類的輕合金,XRF分析儀只能對試樣表面深度幾百微米進行測量。對于鑄鐵或銅等主要金屬,XRF分析儀對試樣的測量深度小于一百微米。而對于金或鉛等致密材料,其僅能測量表面的數十微米。這就意味著材料表面準確體現總體成分這一點非常關鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會對分析造成極大影響。與此類似,噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀進行檢測之前務必對試樣進行清潔。

           Niton XL2 Plus 手持式XRF光譜儀旨在提供快速分析和低檢測限,確保獲得可靠結果。Niton XL2 Plus 通過專有2W x- 射線管、動態電流調節和新一代硅漂移探測器為每次測量提供良好靈敏度。Niton XL2 Plus 通過智能基本參數法(FP)校正樣品基質效應以獲得準確結果。Niton XL2 Plus 手持式XRF光譜儀以完善的配置和多功能性,旨在應對惡劣的分析環境挑戰。在分析尖銳物品時,通過標準 Detector ProGuard 保護裝置將穿刺風險降至低。Niton XL2 Plus 具有經認證的IP54防護等級,密閉防潮防塵,即使在嚴苛的工業環境中也能確保不間斷運行。應用程序界面簡潔,方便導航,保持了即點即拍的簡單性??赏ㄟ^觸摸屏或可選的方向鍵進行快速導航。熱插拔電池能保證更換低電量電池時始終維持儀器正常運行。集成微型攝像頭和鼻錐防護準直裝置為每次測量提供樣品定位。
     
           無論是在現場還是在車間,Niton XL2 Plus 都能使您隨時應對具挑戰的工業環境。操作人員可檢測各種材料,滿足不同分析需求。識別純金屬和合金,檢測雜質元素或獲取地球化學數據 - Niton XL2 Plus 隨時應對各種分析挑戰。


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